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首页    TRIOPTICS光学检测仪    面型测试系统    µPhase® SPHERO & PLANO 生产用干涉仪
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µPhase® SPHERO & PLANO 生产用干涉仪

µPhase®干涉仪可以对由玻璃、塑料、金属、陶瓷或类似材料制成的反射和透射组件的表面和波前变形进行快速、高精度测量。客观可靠的结果满足高质量管理要求。非接触式测量过程有助于防止损坏样品。

                                                                                                                             µPhase® PLANO UP                µPhase® PLANO DOWN                   µPhase® SPHERO UP 

 

产品特点

  • 用千测量不同的平面和球面光学零件
  • 操作直观而简单,适合生产人员使用
  • 结构紧凑,占用空间小,可灵活的与产线结合

 

µPhase®干涉分析测量软件界面

 

CGH 
提供测试非球面、球面、柱面、自由曲面所需的衍射光学元件及配件。 波前测量精度可达到<10nmRMS或λ/20PV接口可根据需求定制。

 

产品型号及技术指标

产品型号 µPhase® PLANO DOWN  µPhase® PLANO UP µPhase® SPHERO UP 
用途 生产 生产 生产
被测样品类型 平面 平面 球面
被测样品尺寸(测量范围) 不同类型最大尺寸φ150mm 不同类型最大尺寸φ150mm 样品大小取决于测量目标
被测样品最大重量 5kg 1.5kg (取决于配置) 1.5kg (取决于配置)
PV重复精度 <λ/100(λ=632.8nm) <λ/100(λ=632.8nm) <λ/100(λ=632.8nm)
RMS重复精度 <λ/1000(λ=632.8nm) <λ/1000(λ=632.8nm) <λ/1000(λ=632.8nm)
激光波长 632.8nm 632.8nm 632.8nm
校准工具 手动倾斜 手动倾斜 手动双调节、倾斜台和z聚焦(几毫米)
半径测量范围 ——— ——— 通常10mm... 200mm 
一般半径的测量相比,相对半径测量范围取决于测试目标和支架
半径测量精度 ——— ——— 取决于半径法线的精度
尺寸(高x宽x深) S: 300x300mm² 
(可工作距离18Qx180mm²)
L: 440x440 mm²
(可工作距离330x330 mm²) 
可工作高度:110mm / 155mm / 200mm 
500mmx200mmx200mm 500mmx200mmx200mm
重量 S: 25kg L: 45kg  5kg...20kg (取决于配置) 5kg...20kg (取决于配置)
类型 台式设备 台式设备 台式设备
可选项 透射法测量 —— ——

 

10mm物镜测量范围

50mm物镜测量范围