光学系统的成像质量取决于很多贡献度，其中最重要的是光学器件质量和系统装调。光学器件质量中，光学器件像差和表面面形是最重要的指标。

评价光学器件质量

像差是非近轴光线追迹所得的结果与高斯光学的理想状况的偏差，主要分为球差、彗差、场曲、像散、畸变、色差以及波像差；表面面形是指镜片作为光学元件的面型精度，无论反射或透射光学系统，光学器件的表面面形对成像质量都有很大影响。因此对像差和面型的检测是评价光学器件质量的重要依据。

Lentino波前测量仪是用于检测小型光学元件的自动波前测量仪，可以测量直径0.3-9mm的标准透镜和非球面透镜，拥有XYZ三轴调节的高精度位移平台，装备的LD或LED光源可提供量193nm-1100nm波长的平行光，PV测量精度高达λ/100，RMS重复性2-3nm。除此之外Lentino波前测量仪还具有采集速度快（15-500Hz），分析速度快（5-50Hz）,可测量镜头范围广（F/1~F/15）等优点。

Lentino自动波前测量仪可以精确测量透镜的像差和面型：

图中显示了样品的PV，RMS等面型信息，并以等高线图和3D图展示；

图中还计算了36个Zernikre项，包括倾斜，离焦，球差，像散，彗差等

Lentino自动波前测量仪还可以通过光学元件的波前计算其MTF，帮助使用者进一步评估镜头质量：

辅助光学系统装调

光学系统的装调是影响成像质量的另一个重要因素。对于光学系统来说，各个光学元件如果不能很好地按照设计进行对准，那么即使各个光学元件的质量都符合要求，也很难得到良好的成像质量。其原因就是在各个光学元件进行装调的时候没有很好地对准从而引入了新的系统像差。因此在对光学系统进行装调的时候，实时检测系统误差以协助各个光学元件的对准从而减小系统的像差十分重要。

Lentino自动波前测量仪可以实时显示当前光学系统的像差系数，从而辅助光学系统的调节，如图所示：在系统的各个光学元件对齐的时候，系统的像差大幅度减小。