产品介绍

SPOT测试系统的外形图

       SPOT中波红外焦平面阵列空间响应测试系统是扫描式光斑投影系统，它将高亮度的极小光斑投射到被测MWIR FPA表面上，同时测量其输出信号。它可以直接测量MWIR FPA传感器的空间响应分布函数，也可间接精确测量这些成像传感器的MTF和串扰。

       SPOT测试系统的各部件结构如下，包括光斑投影系统和扫描系统。测试原始红外FPA传感器时，SPOT还可以配置与FPA相匹配的高动态范围电路。

SPOT测试系统的原理图

       相较竞争对手，SPOT测试系统的主要优势是提供了高能量(至少4 mW)的极小光斑(通常是8µm)用以测试。这种高能量密度可以检测到光电二极管制造过程中传感器感光层上的微小缺陷。

设备特性：

• 可控制光斑的空间位置，光强

• 测量FPA单个像元输出的信号，通过反卷积来计算结果

• 测量IR FPA的空间响应函数

• 计算MTF和串扰

• 全自动测试系统

• 软件提供调焦功能

产品参数