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人工晶体波前测量仪
产品详情
WaveSensor & WaveMaster® 波前测试系统
夏克-哈特曼波前传感器
为了能够验证复杂的光学设计在生产中是否成功，必须使用一个有效的检测技术。波前测量特别适合此目的，因为它可以在空间分辨的基础上确定图像质量，包括所有视场角上和整个样品孔径。与传统的MTF测试相比，波前测试是用点扩散函数进行评价，可覆盖整个样品口径。
产品特点
01 ▏灵敏度高
WaveSensor和WaveMaster®系列波前测试系统的动态范围高达2000λ，可在镜头设计中实现高度灵敏的测量。
02 ▏重复精度高
除了高达λ/20 (RMS)的测量精度外，由于紧凑、坚固和抗振的设计，还实现了λ/200 (RMS)的高重复性。
03 ▏实时分析
实时将测量波前数据的结果与样品镜片或设计值的结果进行比较和评估。
产品概述
WaveMaster® IOL 2 人工晶体波前测量仪
WaveMaster® IOL 2系列人工晶体波前测量仪可实现人工晶状体的屈光度测试。
适用于常见人工晶状体类型的通用测量系统：单焦点、柱面、球面和非球面
根据ISO 11979在空气中或可选可加热的模型眼中测量疏水性和亲水性镜片
像差、MTF、EFL和PSF的全自动测量和用户自定义测量
WaveMaster® IOL 2系列人工晶体波前测量仪基于波前测量，使用TRIOPTICS GmbH（德国全欧光学）成熟的夏克-哈特曼波前传感器WaveSensor®系列测量折射型人工晶状体单焦点和柱面、球面或非球面等人工晶状体的关键参数。因此，它可用于研发和生产。通过分析在快速测量过程中获得的波前数据，计算出屈光度、像差和光学传递函数等测量参数。此外，还支持柱面镜片的全自动测量（两个子午线的MTF、标记点识别）。空中或水中测量的都安排在一个直观可用的软件界面中，引导用户完成整个过程。
波前测量完成的屈光度分布图
人工晶状体评估过程中的安全性，因为测量精度是ISO要求的公差的三倍
通过Zernike分析对研发中的人工晶状体像差进行个体分析
通过人工晶状体两个主要部分的自动MTF测量呈现柱面人工晶状体的成像质量
全自动测量Toric人工晶状体标记点和标记轴的偏差
实时图像允许对人工晶状体的制造质量进行视觉分析
根据所需的分辨率和动态，可针对特定样品调整测量直径
产品应用
在以小尺寸和轻重量为特征的紧凑型透镜系统的需求，很多情况下，需要用一种非球面光学透镜替换多个球面透镜。因此，在生产过程中进行的质量控制变得越来越重要。在这种情况下，传统测量工艺已经不能完成这些测量任务，使用大动态范围的夏克-哈特曼波前传感器进行波前测量是这里的首选解决方案。
软件应用
该软件功能全面，界面友好，包含测量和分析球面和非球面样品所需的所有功能。输出结果数据可选全面，所有重要的测量结果可以被显示出来。
该软件与夏克-哈特曼波前传感器通讯并实时分析测量的波前。此外，WaveMaster®还可以控制测量系统以校准样品等。
清晰的菜单引导和可配置的操作
对整个透镜组件或单个透镜表面的波前进行简单直观的实时测量和分析
一款软件满足所有需求：数据采集、数据计算、校准和数据显示
绝对和相对测量模式，可与ZEMAX和Code V的理论设计数据或参考镜头进行实时比较
通过输出测量证书
在可调节的测量和分析范围内清晰描绘出：
• 二维波前质量图
• PV和RMS
• 波前强度
• 相机波前图像
通过多个参数化完整描述表面形貌：
• 非球面方程
• 泽尼克多项式
• 圆锥方程
• 球面方程
• 自由曲面
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升级与配件
WaveSensor & WaveMaster® 常规
通过对样品进行单独调整，可以进行完整的分析。活动支架使光源和望远镜的简单交换成为可能。
不同波长和数值孔径的光源
用于在样品和传感器之间实现合适的放大倍率的扩束望远镜
用于具有不同曲率半径的表面的透镜组件
样品架和托盘
标准样品
WaveSensor & WaveMaster® 软件
1. 分析模块
软件可根据测量任务相关的需求进行模块优化：
Zernike拟合和实时波前分析
拟合结果和残差的数值和图形显示
从ZEMAX和CODE V导入波前设计数据以进行实时比
以ASCII和ZEMAX格式导出波前数据和分析结果
2. MTF/PSF分析模块
3D MTF 和 PSF 数据的实时计算和显示
MTF测量结果表
测量结果导出功能
计算斯特列尔比
3.WaveMaster® IOL 2
测量范围的扩展
柱面人工晶状体升级（自动标记点检测、MTF的测量、目视检查）
升级为546nm
具有各种孔径尺寸的人工晶状体工装
模型眼，可选可加热
计算斯特列尔比