WaveMaster® PRO系列产品是为了适应波前质量的大批量检测的需求而研发的两款仪器，可自行设置合格标准，并根据该标准自动判定合格和不合格。WaveMaste产PR02和WaveMaster® PRO 2 Wafer配备托盘系统，实现对单个小镜片的大批量检测。WaveMaster® PRO 2 Wafer则可以对晶圆级镜头的波前进行快速检测。

对于大视场镜头来说，轴外视场的高质量成像是关键。在这里，仅 仅在轴上进行波前测量通常是不够的，因为没有考虑到高视场角。 因此，德国全欧光学(TRIOPTICS)提供了一个解决方案来覆盖这个应用一－WaveMaster® Field。
WaveMaster® Field为研发所设计，该系统既可以在±60°范围内对整个视场内的样品进行全面测量，又可以进行后续的深入分析。只需几个步骤就可以对入射角和波长进行灵活调整，以模拟不断变化的照明条件，同样也易千适用不同的样品。

WaveMaster® Compact系列产品可以简单快速的完成对球面或非球面镜片波前质量的检测，并运用泽尼克多项式实时分析波前数据，在生产和研发上都有着广泛应用。 WaveMaster® Compact 2 Universal是专业级的波前测量仪，集成了WaveMaste产Compact 2和WaveMaste产Compact 2 Reflex所有功能。

WaveMaster®是应用于球面及非球面光学系统波前实时测量和分析的仪器，具备高空间分辨率和高精度的特征；整合了目前先进的波前传感技术，并配备有光源、样品承载台、准直系统或望远扩（缩）束系统及波前传感器，可轻松的构建有限辐或无限耟测量模式。

WaveSensor®系列产品是应用夏克－哈特曼传感器的测量原理研制而成的，并配备专门的操作与分析软件， 可用千激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、 介质扰动对光束质量影响的测量、 大型球面镜表面面形精度的检测等。利用WaveSensor®可获得丰富的光束质量及空间、 时间信息， 是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影晌因素的有力手段， 因此WaveSensor® 已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。