Bristol Instruments提供了一系列测厚仪产品，可方便地测量厚度，并具有很高的测量精度以及重复性，以适用于大部分的应用需求。更重要的是，这些产品采用了一种非常有效的技术，即使用非接触式光学探针进行无损检测，同时这种技术还可以同时测量多层膜的厚度。

产品特点：

• 可测量硬材料和软材料，并且不会造成损坏或变形

• 用于精确定位测量位置的可见光束

• 同时测量多达31层

• 使用内置的固有长度标准进行连续校准

• 测量置信水平≥99.7%

• 可追溯至NIST标准

• 测量频率高达20赫兹

• 使用USB或以太网进行PC通讯

• 提供基于Windows的光学测量软件，用于设置测量参数和输出测量数据

• 使用LabVIEW、.NET或自定义编程进行自动数据报告，无需专用PC

软件测量界面：

应用领域：

• 光学元件和透镜组件

• 可测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔

• 隐形眼镜和人工晶状体

• 测量中心厚度、矢高和群折射率

• 医用导管窥镜

• 可同时测量壁厚、内径和外径，管壁厚度、管颈和管锥的壁厚

• LCD, LED, OLED 和AMOLED显示屏

• 可测量总厚度和各层厚度，包括LOCA(液体光学透明粘合剂)层

• 半导体

• 硅/砷化镓晶片

• 玻璃抛光

• 测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。

LensThick ATW全自动光学测厚仪

设备原理

设备基于低相干干涉原理，采用非接触式光学测量，并配备高精度移动平台和机器视觉定位系统，自动测量产品的厚度以及空气间隔

典型应用

自动无损测量单透镜中心厚度/镜头组每个透镜的中心厚度和空气间隙

设备特点

• 配备非接触式光学测厚仪，全自动化测量，实时显示测量数据

• 精度可达±0.1μm，重复性可达±0.02μm，量程可达80mm

• 最多可同时测量多达31层厚度

• 通过机器视觉识别定位，运用高精度算法，定位精度高，准确可靠

• 全中文软件界面，操作便捷，自动甄别反射峰，一键式测量

主要配置/设备关键部件